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X射线检查装置

基本信息

  • 申请号 CN01143618.2 
  • 公开号 CN1356539A 
  • 申请日 2001/11/07 
  • 公开日 2002/07/03 
  • 申请人 株式会社石田  
  • 优先权日期  
  • 发明人 嶌田征浩 株本隆司 佐藤宏和 广濑修  
  • 主分类号  
  • 申请人地址 日本京都府 
  • 分类号  
  • 专利代理机构 中国专利代理(香港)有限公司 
  • 当前专利状态 发明专利申请公布 
  • 代理人 栾本生 
  • 有效性 发明公开 
  • 法律状态
  •  

摘要

本发明提供在使用中能够减少因X射线照射器或X射线行传感器不能再使用而造成的突然事件的X射线检查装置,该X射线检查装置10是用X射线检查物品的装置,具有照射X射线的X线源13、X线传感器14和检查水平文件25a。
上述X线源照射X线传感器14检测来自上述X线源13的射线。
上述检查水平文件25a存储上述X线传感器14的检测水平随时间的变化。
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